会议论文《IC芯片因管脚出现腐蚀导致电路工作失常的机理研究》探讨了IC芯片管脚腐蚀对电路性能的影响。研究通过实验分析，揭示了腐蚀过程中的化学反应机制及其对电气连接的破坏作用。该文为提高芯片可靠性提供了理论依据，对SMT工艺改进具有重要参考价值。
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