会议论文《测控系统中I/O模块和PLC应用问题的探讨》发表于第八届21世纪试验技术与试验机研讨会，主要探讨了工业测控系统中I/O模块与PLC（可编程逻辑控制器）的应用现状及存在问题。文章分析了实际应用中的信号干扰、通信延迟及配置错误等常见问题，并提出了优化方案，为提高测控系统的稳定性与可靠性提供了参考依据。
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