基于ICT引信无损检测系统开发研究 - 2009全国射线数字成像与CT新技术研讨会.pdf

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2026-1-11 15:02 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于ICT引信无损检测系统开发研究》发表于2009全国射线数字成像与CT新技术研讨会。该文探讨了利用工业计算机断层扫描(ICT)技术对引信进行无损检测的系统开发,旨在提高引信质量检测的准确性和效率。研究内容包括系统架构设计、图像重建算法及实际应用验证,为军事装备检测提供了技术支持。

文档为pdf格式,0.55MB,总共6页。

基于ICT引信无损检测系统开发研究 - 2009全国射线数字成像与CT新技术研讨会
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