会议论文《基于BIST的CDR电路抖动容限测试方法和电路》提出了一种利用内置自测试（BIST）技术对时钟数据恢复（CDR）电路进行抖动容限测试的方法。该方法提高了测试效率和准确性，降低了对外部测试设备的依赖。论文在第十八届全国半导体集成电路、硅材料学术会议上发表，为CDR电路的测试与验证提供了新思路。
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