会议论文《TlBr晶体杂质测试技术的研究》发表于第十一届全国青年分析测试学术报告会，探讨了铊溴（TlBr）晶体中杂质的检测方法。该研究针对TlBr晶体在光电探测领域的应用需求，提出了高效的杂质分析技术，提升了材料纯度评估的准确性与可靠性，对推动高性能半导体材料的发展具有重要意义。
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