会议论文《Power Consumption and Hotspot Analysis for FPGAs》在第十八届全国半导体集成电路、硅材料学术会议上发表，探讨了FPGA器件在运行过程中的功耗特性与热点问题。文章通过实验与仿真分析，揭示了不同工作负载下FPGA的功耗分布规律，提出了有效的热点检测与优化方法，对提升FPGA性能与可靠性具有重要意义。
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