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论文《芯片外观缺陷对LED器件老化可靠性的影响》探讨了芯片外观缺陷对LED器件在长期使用过程中的可靠性影响。通过实验分析，研究发现芯片表面的划痕、裂纹等缺陷会加速LED的老化过程，降低其使用寿命。该研究为提高LED产品的质量与可靠性提供了理论依据和技术支持，对推动LED产业的健康发展具有重要意义。 文档为pdf格式，0.63MB，总共4页。
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