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《GaAs器件寿命试验结温测试方法研究 - 2011第十四届全国可靠性物理学术讨论会》是一篇关于GaAs器件在寿命测试中结温测量方法的研究论文。文章探讨了在高温和高应力条件下，如何准确测定GaAs器件的结温，以评估其可靠性和寿命。研究采用多种测试手段，结合理论分析与实验数据，提出了提高结温测试精度的方法。该论文对半导体器件的可靠性研究具有重要参考价值，为GaAs器件在航空航天、通信等领域的应用提供了技术支持。 文档为pdf格式，0.18MB，总共4页。
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