相控阵超声相位相干成像（PCI）检测原理及应用

相控阵超声相位相干成像（PCI）检测原理及应用
摘要：为了了解相控阵超声相位相干成像（PCI）检测技术在工业无损检测应用中的效果及特点,详细介绍了相控阵超声全聚焦成像与相位相干成像（PCI）检测技术的基本原理,从原理上分析了PCI检测技术与全聚焦成像检测技术的差异性。通过试验测试了PCI检测技术对点状缺陷、面状缺陷与体积状缺陷的检测特点及效果, 根据得到的检测效果,展示了PCI检测技术对于不同类型缺陷的检测优势与不足,以推动该技术在工业无损检测中的正确应用。

标题：相控阵超声相位相干成像（PCI）检测原理及应用

作者：张瑞,钟德煌,王晓宁,

关键词：相位相干成像,全聚焦成像,全矩阵采集,相控阵超声,

发表日期：2024年1月

2025-1-19 14:23 上传 相控阵超声相位相干成像（PCI）检测原理及应用.pdf

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