会议论文《薄膜及镀层试样组分和厚度的同时测定-XRF的重要应用领域之一》介绍了X射线荧光光谱技术（XRF）在薄膜及镀层分析中的关键作用。该文探讨了XRF如何实现对材料组分与厚度的同步检测，展示了其在半导体、电子、汽车等领域的广泛应用。通过XRF技术，可以快速、无损地获取样品的化学组成及厚度信息，提升产品质量控制效率。本文为X射线分析仪器用户提供了重要的技术参考。
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