会议论文《高能X-射线数字平板成像系统中的射线背散射问题探讨》探讨了在高能X-射线成像过程中，背散射射线对图像质量的影响。文章分析了背散射产生的原因及其对成像系统性能的干扰，并提出了相应的抑制措施。该研究为提高数字平板成像系统的成像清晰度和检测精度提供了理论依据和技术支持。
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