会议论文《用于综合孔径成像的冗余基线校正方法》针对高精度几何量光电测量中的关键问题，提出了一种有效的冗余基线校正方法。该方法通过分析综合孔径系统中冗余基线的特性，提高了成像精度和系统稳定性。研究在二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会上发表，对相关领域的技术发展具有重要参考价值。
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