校准刻度及逻辑控制插件 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会.pdf

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2026-1-12 14:54 | 查看全部 阅读模式

会议论文《校准刻度及逻辑控制插件》发表于第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文探讨了在核电子学系统中,如何通过校准刻度和逻辑控制插件提高数据采集的准确性和系统响应的可靠性。研究针对实际应用中的信号处理问题,提出了一种高效的校准方法和逻辑控制方案,具有重要的工程应用价值。

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校准刻度及逻辑控制插件 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会
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