会议论文《用内标法在SEM上测定固体颗粒直径》发表于二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会。该文介绍了利用扫描电子显微镜（SEM）结合内标法精确测量固体颗粒直径的方法，通过引入标准参考物质提高测量准确性，适用于纳米及微米级颗粒的尺寸分析，对材料科学和精密制造领域具有重要应用价值。
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