会议论文《混合集成电路中多余物提取方法的探讨》由中国电子学会第十五届电子元件学术年会发表，主要研究了混合集成电路中多余物的检测与提取方法。文章分析了多余物对电路性能的影响，提出了一种有效的提取算法，提高了检测精度和效率。该研究对提升集成电路可靠性具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。
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