会议论文《基于BIST的动态可重构FPGA的延时故障测试方法》提出了一种针对动态可重构FPGA的延时故障测试方法。该方法结合内置自测试（BIST）技术，提高了测试效率和覆盖率。通过优化测试模式生成与故障诊断策略，有效检测了电路中的延时故障，为提高FPGA系统的可靠性和稳定性提供了理论支持和技术手段。
文档为pdf格式，0.36MB，总共6页。
举报
