会议论文《原子吸收光谱法测定智能卡芯片中的金》发表于2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会。该文介绍了采用原子吸收光谱法对智能卡芯片中金元素进行定量分析的方法，探讨了样品前处理、测量条件及干扰因素的控制，为微电子材料中贵金属的检测提供了有效技术手段。
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