利用EGSnrc计算X射线在不同材料中的衰减 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会.pdf

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2026-1-12 10:07 | 查看全部 阅读模式

会议论文《利用EGSnrc计算X射线在不同材料中的衰减》探讨了使用EGSnrc软件包模拟X射线在多种材料中的衰减特性。该研究为辐射防护和医学成像提供了重要的理论依据,有助于提高对X射线与物质相互作用的理解。论文在第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会上发表,展示了计算方法的准确性与实用性。

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利用EGSnrc计算X射线在不同材料中的衰减 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会
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