会议论文《叉指式微加速度计敏感芯片的辐射效应分析》发表于第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文研究了叉指式微加速度计在辐射环境下的性能变化，分析了辐射对敏感芯片的影响机制，为提高其在空间或核设施等恶劣环境中的可靠性提供了理论依据和技术支持。
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