基于JTAG扫描链的嵌入式处理器IP核调试方法研究 - 第五届中国测试学术会议.pdf

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2026-1-12 11:26 | 查看全部 阅读模式

会议论文《基于JTAG扫描链的嵌入式处理器IP核调试方法研究》探讨了利用JTAG扫描链技术对嵌入式处理器IP核进行有效调试的方法。该研究针对传统调试手段的不足,提出了一种改进的调试策略,提高了调试效率和准确性。文章通过实验验证了方法的可行性,为嵌入式系统开发提供了重要的理论支持和技术参考。

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基于JTAG扫描链的嵌入式处理器IP核调试方法研究 - 第五届中国测试学术会议
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