会议论文《基于JTAG的故障注入研究》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了利用JTAG接口实现故障注入的技术方法。文章分析了JTAG在芯片测试与调试中的作用，提出了通过该技术引入故障以评估系统可靠性的方案。研究为提高电子系统的容错能力和故障诊断水平提供了理论支持和实践参考。
文档为pdf格式，0.19MB，总共3页。
举报
