CMOS石英晶振最优启振条件分析与电路设计 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08).pdf

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2026-1-12 07:22 | 查看全部 阅读模式

会议论文《CMOS石英晶振最优启振条件分析与电路设计》探讨了CMOS石英晶体振荡器的启振原理及优化设计方法。文章通过理论分析与实验验证,确定了影响启振性能的关键因素,并提出了改进电路设计的方案,以提高振荡器的稳定性和效率。该研究对实际应用中的高频信号源设计具有重要参考价值。

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CMOS石英晶振最优启振条件分析与电路设计 - 第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)
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