会议论文《一种提高RAM成品率的电路设计方法》发表于第十二届计算机工程与工艺全国学术年会(NCCET08)。该文提出了一种优化RAM电路设计的方法,旨在提升芯片的成品率。通过改进电路结构和设计策略,有效降低了制造过程中的缺陷影响,提高了产品的可靠性与良率,对集成电路设计具有重要参考价值。
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