会议论文《93K集成电路测试系统参考源校准方法研究》针对集成电路测试中的关键问题，提出了一种有效的参考源校准方法。该研究在第五届中国测试学术会议上发表，旨在提高测试系统的精度与可靠性。通过分析校准原理与实现方案，文章为93K测试系统提供了理论支持和技术指导，对提升测试质量具有重要意义。
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