会议论文《阻尼结构抗辐射性能评估方法比较研究》发表于第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会。该文系统比较了多种评估阻尼结构抗辐射性能的方法，分析了不同方法的适用性与准确性，为提高电子设备在强辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术参考。
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