电子器件辐射失效分布函数选择及生存概率的计算与分析 - 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会.pdf

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2026-1-11 20:35 | 查看全部阅读模式

会议论文《电子器件辐射失效分布函数选择及生存概率的计算与分析》探讨了在辐射环境下电子器件的失效机制，分析了不同分布函数对失效数据的拟合效果。文章提出了生存概率的计算方法，为评估电子设备在强辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持，对提高系统抗辐射能力具有重要意义。

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