用于高能X光测量的Si-PIN阵列探测器 - 首届全国脉冲功率会议.pdf

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2026-1-11 20:28 | 查看全部 阅读模式

会议论文《用于高能X光测量的Si-PIN阵列探测器》介绍了基于Si-PIN二极管的阵列探测器在高能X光测量中的应用。该探测器具有响应速度快、能量分辨率高和结构紧凑等优点,适用于脉冲功率系统中X光辐射的实时监测。文章详细阐述了探测器的设计原理、性能测试及实验结果,为高能物理和等离子体诊断提供了有效的测量手段。

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用于高能X光测量的Si-PIN阵列探测器 - 首届全国脉冲功率会议
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