用于带状注约束的PCM聚焦结构的设计与测试 - 中国电子学会真空电子学分会第十七届学术年会暨军用微波管研讨会.pdf

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2026-1-11 20:29 | 查看全部阅读模式

会议论文《用于带状注约束的PCM聚焦结构的设计与测试》介绍了针对带状电子束的PCM聚焦结构设计与实验验证。该研究旨在提高微波管中电子束的聚焦性能，增强器件效率与稳定性。通过理论分析与实验测试，论文展示了该结构在带状注约束下的有效性，为高性能微波管的发展提供了技术支持。

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