会议论文《抗辐射加固IC电路相位噪声测试研究》发表于第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会。该文针对抗辐射加固集成电路在复杂电磁环境下的性能稳定性问题，重点研究了相位噪声的测试方法与影响因素。通过实验分析，提出了优化测试流程和提高测量精度的策略，为提升高可靠性电子系统的设计与应用提供了理论支持和技术参考。
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