会议论文《基于SRAM的XILINX FPGA单粒子翻转的测试和试验方法研究》探讨了针对XILINX FPGA器件的单粒子翻转现象进行测试与分析的方法。文章通过实验验证了SRAM结构在单粒子效应下的敏感性，提出了有效的检测与评估策略，为提高FPGA在辐射环境下的可靠性提供了理论依据和技术支持。
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