会议论文《低成本高可靠性NOR型Flash耐久性测试系统的研究与设计》探讨了针对NOR型Flash存储器的耐久性测试方法。该研究提出了一种经济高效的测试系统设计方案，旨在提升测试的可靠性与准确性。通过优化硬件结构和测试流程，该系统能够有效评估Flash芯片的寿命性能，为半导体集成电路的品质控制提供了重要参考。
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