会议论文《ZnO压敏电阻的寿命》发表于中国电子学会敏感技术分会第十六届电压敏学术年会。该文探讨了ZnO压敏电阻在长期使用过程中的老化机制与寿命评估方法，分析了温度、电压及环境因素对其性能的影响。研究为提高压敏电阻的稳定性和可靠性提供了理论依据，对实际应用具有重要指导意义。
文档为pdf格式，0.18MB，总共4页。
举报
