会议论文《ITO导电氧化物薄膜椭偏光学性质研究》探讨了氧化铟锡（ITO）薄膜的椭偏光学特性，为透明导电材料的性能分析提供了理论依据。该研究通过椭偏技术测量薄膜的折射率和消光系数，揭示其在不同波长下的光学行为。文章对ITO薄膜的结构与光学性质之间的关系进行了深入分析，为光电器件的优化设计提供了重要参考。
文档为pdf格式，0.42MB，总共6页。
举报
