会议论文《高阻GaN薄膜的准霍尔测量技术》探讨了针对高阻GaN材料的新型测量方法。该研究通过改进传统霍尔测量技术，提高了对高阻材料电学性能的检测精度。文章介绍了实验设计与数据分析过程，为GaN器件的性能优化提供了理论支持和技术参考。
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