退火工艺对N型Bi2Te3-ySey薄膜结构以及热点性能的影响 - 2010年环渤海表面精饰发展论坛.pdf

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2026-1-11 06:47 | 查看全部 阅读模式

本文介绍了2010年环渤海表面精饰发展论坛上发表的会议论文,研究了退火工艺对N型Bi₂Te₃-ySeᵧ薄膜结构及热电性能的影响。通过不同退火条件下的实验,分析了材料的晶体结构、晶粒尺寸及其对热电性能的影响,为优化薄膜热电材料的制备工艺提供了理论依据。

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退火工艺对N型Bi2Te3-ySey薄膜结构以及热点性能的影响 - 2010年环渤海表面精饰发展论坛
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