会议论文《源漏电极与沟道接触对ZnO薄膜晶体管的影响》探讨了源漏电极材料及与沟道接触特性对ZnO薄膜晶体管性能的影响。研究通过实验分析了不同电极材料对器件电学性能的影响，提出了优化接触界面的策略，为提高ZnO TFT的稳定性和性能提供了理论依据和技术支持。
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