会议论文《基于最小二乘算法的测试系统研究》发表于2010国际仪器仪表与测控技术大会。该文探讨了如何将最小二乘算法应用于测试系统中，以提高测量精度和数据处理效率。研究通过实验验证了算法的有效性，为现代测控系统提供了可靠的技术支持。
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