基于改进二进制粒子群算法的数字电路测试生成方法 - 第三届国防科技工业试验与测试技术发展战略高层论坛.pdf

5 0

2026-1-11 02:51 | 查看全部阅读模式

会议论文《基于改进二进制粒子群算法的数字电路测试生成方法》提出了一种优化的测试生成算法，用于提高数字电路故障检测效率。该方法在传统二进制粒子群算法基础上进行改进，增强了搜索能力和收敛速度。通过实验验证，该算法在测试用例生成质量与计算效率方面表现优异，为数字电路测试提供了新的解决方案。

文档为pdf格式，0.21MB，总共5页。