会议论文《噪声用于电子元器件和电路可靠性评估》发表于中国电子学会第十六届电子元件学术年会，探讨了噪声在评估电子元器件及电路可靠性中的应用。文章分析了噪声特性与器件失效之间的关系，提出了利用噪声参数进行故障诊断和寿命预测的方法，为提高电子设备的稳定性和可靠性提供了理论支持和技术参考。
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