关注无铅化焊接中倒装芯片和CSP器件的检验 - 2010年中国电子制造技术论坛.pdf

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2026-1-11 01:41 | 查看全部 阅读模式

会议论文《关注无铅化焊接中倒装芯片和CSP器件的检验》探讨了无铅焊料在倒装芯片和CSP器件应用中的检验技术。文章分析了无铅焊接过程中可能出现的质量问题,并提出了相应的检测方法,以确保电子产品的可靠性和稳定性。该研究对于推动无铅化制造技术的发展具有重要意义。

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关注无铅化焊接中倒装芯片和CSP器件的检验 - 2010年中国电子制造技术论坛
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