会议论文《一种发光二极管芯片的寿命试验方法》发表于第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED)。该文探讨了LED芯片寿命测试的有效方法，旨在提高LED产品的可靠性与稳定性。通过实验分析，提出了科学的寿命评估体系，为LED产业的发展提供了理论支持和技术参考。
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