会议论文《一种可编程MBIST结构的设计与实现》探讨了基于可编程技术的MBIST（嵌入式测试）结构设计与实现方法。该研究针对集成电路测试需求，提出了一种灵活、高效的测试架构，提升了测试覆盖率和诊断能力。通过引入可编程逻辑，实现了对不同测试模式的快速切换，提高了测试效率。该成果为复杂芯片的自动化测试提供了新的解决方案，具有重要的工程应用价值。
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