会议论文《X射线成像质量下降的研究》探讨了X射线成像过程中图像质量下降的原因及影响因素。该研究针对成像系统中的噪声、分辨率和对比度等问题进行了深入分析，提出了优化成像参数和改进设备设计的建议。论文在第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议上发表，为提升X射线成像技术提供了理论支持和实践指导。
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