会议论文《X射线反射仪角度溯源性研究》发表于第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会，探讨了X射线反射仪在角度测量中的溯源性问题。文章分析了影响角度精度的关键因素，提出了提高测量准确性的方法，对纳米材料的结构表征具有重要意义。
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