会议论文《X—射线荧光能谱在化妆品检测中的应用探讨》发表于2010国际化妆品高峰论坛。该文介绍了X—射线荧光能谱技术在化妆品成分分析中的应用，强调其无损、快速和高精度的优势。通过实例分析，展示了该技术在检测重金属等有害物质方面的有效性，为化妆品安全检测提供了新的思路和技术支持。
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