会议论文《某型自动驾驶仪BIT测试电路的设计》针对自动驾驶仪的自检功能进行了深入研究。文章提出了基于BIT（Built-In Test）技术的测试电路设计方案，旨在提高系统的可靠性和故障诊断能力。通过该设计，能够实时监测自动驾驶仪的关键参数，及时发现潜在故障，为系统维护提供数据支持。该成果对于提升飞行器控制系统的智能化水平具有重要意义。
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