阿伦尼斯模型在器件级电子产品上的适用性研究 - 第十三届全国敏感元件与传感器学术会议.pdf

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2026-1-10 09:15 | 查看全部 阅读模式

会议论文《阿伦尼斯模型在器件级电子产品上的适用性研究》发表于第十三届全国敏感元件与传感器学术会议。该文探讨了阿伦尼斯模型在电子产品可靠性评估中的应用,分析其在器件级预测寿命的准确性与适用范围,为电子器件的失效分析和寿命预测提供了理论依据和技术支持。

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阿伦尼斯模型在器件级电子产品上的适用性研究 - 第十三届全国敏感元件与传感器学术会议
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