会议论文《脉宽调制器单粒子效应测试系统研制》发表于北京核学会第十届(2014)核应用技术学术交流会。该文介绍了针对脉宽调制器设计的单粒子效应测试系统，旨在评估其在高能粒子辐射环境下的可靠性。研究通过实验方法验证了系统的有效性，为提升电子设备的抗辐射能力提供了技术支持。
文档为pdf格式，0.32MB，总共6页。
举报
