硫化银体材料忆阻性能研究 - 中国电子学会第十七届电子元件学术年会.pdf

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2026-1-10 07:48 | 查看全部 阅读模式

会议论文《硫化银体材料忆阻性能研究》发表于中国电子学会第十七届电子元件学术年会,探讨了硫化银体材料在忆阻器中的应用特性。研究通过实验分析了材料的电阻切换行为及稳定性,为新型存储器件的发展提供了理论支持和技术参考。

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硫化银体材料忆阻性能研究 - 中国电子学会第十七届电子元件学术年会
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