会议论文《电离径迹对先进半导体器件单粒子效应的影响》发表于第一届全国辐射物理学术交流会(CRPS`2014)。该文探讨了电离径迹在先进半导体器件中引发单粒子效应的机制，分析了不同粒子类型和能量对器件性能的影响，为提高器件抗辐射能力提供了理论依据和技术参考。
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